ЖУРНАЛ СТА 1/1997

нелинейности. В отдельном окне отображаются графики абсолютной погрешности преобразования при всех значениях тестового сигнала для выбранных пределов и каналов АЦП. Наглядная графическая форма пред- ставления суммарной погрешности существенно облегчает регулировку параметров с целью достижения тре- буемых показателей. Время испыта- ний по всем четырем диапазонам не превышает 10 минут. Высокие метрологические харак- теристики платы 5700, гибкость и универсальность программного обес- печения позволяют достаточно быст- ро адаптировать систему для контро- ля модулей и микросхем одно- и дву- полярных АЦП с последовательным или байтовым параллельным порта- ми при количестве разрядов от 8 до 13 и количестве диапазонов до пяти. Интерфейс оператора системы реа- лизован в виде рабочих панелей, на которых представлены основные ор- ганы управления, табло для числовых значений вводимых и измеренных параметров, дисплейные окна для графического представления резуль- татов контроля, вывода подсказок и информационных сообщений опе- ратору. На рис. 4 показана панель системы контроля АЦП. Наглядность представления результатов испыта- ний существенно облегчает их ин- терпретацию, что в совокупности с предельной простотой управления системой снижает требования к ква- лификации обслуживающего персо- нала и способствуют уменьшению продолжительности испытаний и времени регулировок при настройке. Заключение Более чем полугодовой опыт при- менения систем продемонстрировал их высокую эффективность: ● величились полнота и достовер- ность контроля ТИС; ● повысилась надежность модулей и ТИС в целом; ● существенно уменьшилось время ре- гулировки и поверки модулей ТИС; ● снизились требования к квалифи- кации персонала, занятого произ- водством и обслуживанием ТИС. Первые же результаты контроля мо- дулей заставили обратить внимание на некоторые их схемотехнические и технологические недостатки, после устранения которых удалось улуч- шить метрологические характеристи- ки ТИС. Системы применяются также при экспериментальных исследова- ниях вновь проектируемых устройств различного назначения, что, несо- мненно, способствует сокращению сроков разработки и внедрения в про- изводство новых приборов и систем, повышает их качество и надежность. ● Е.Д. Баран, А.В. Ветошкин, В.В. Воронов, Д.А. Дударев, А.А. Мозгунов – сотрудники кафедры ССОД НГТУ Телефон: (3832) 46-0855 Факс: (3832) 46-2454 E-mail: baran@tiger.nstu.nsk.su РАЗРАБОТКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА 1/97 84 Рис. 4.Панель системы контроля и поверки АЦП