ЖУРНАЛ СТА 1/2009

высокую интенсивность отказов, вносит большой вклад в общую PFDavg. Вклад каждого из компо нентов в общую PFDavg системы по казан на рис. 6. 4. Датчик, который имеет высокий RRF (2500), тем не менее, пригоден только для использования в системах с уровнем не выше SIL 2 (компонент типа B с устойчивостью к аппарат ным отказам 0 – табл. 2), поскольку его SFF не соответствует применени ям с уровнем SIL 3. 5. Что нужно сделать, если необходи мый уровень SIL 2 для SIF должен обеспечивать фактор снижения рис ка RRF примерно равным 900? Воз можным решением является исполь зование для клапана архитектуры с резервированием 1оо2. При проведе нии периодических тестов клапаны по очереди могут включаться в обход и проверяться без остановки процес са. В этом случае межтестовый ин тервал для клапана может быть со кращён, например, до 4 месяцев. Принимая фактор отказов по общей причине равным 5% и межтестовый интервал TI = 4 месяца, получим RRF системы с уровнем SIL 2, ра вный 970. Таким образом, минимальный меж тестовый интервал в рассмотренной системе имеет клапан, для других ком понентов системы межтестовые интер валы при данном RRF существенно выше (табл. 6). В ЛИЯНИЕ ЭФФЕКТИВНОСТИ ПРОВЕРОЧНЫХ ТЕСТОВ НА PFD AVG Стандарт МЭК 61508 требует, чтобы в результате периодических провероч ных тестов устройство восстанавлива ло характеристики до состояния «но вого». Другими словами, эти тесты должны выявлять все опасные недетек тируемые отказы, существующие в уст ройстве. Поскольку на практике это невозможно, эффективность таких тестов варьируется от 99 до 50%. Для каждого компонента SIF, когда эффективность периодических тестов по выявлению опасных отказов равна 100%, формула для расчёта PFDavg уп рощается: Если эффективность не равна 100%, формула имеет вид: где Et – эффективность теста по выявле нию опасных отказов (например, 90%); SL – интервал между периодическими проверочными тестами с эффективно стью 99–100% или между двумя пол ными заменами устройства, либо срок жизни системы или устройства, если они никогда полностью не тестируют ся и не заменяются. Для TI = 1 году и SL = 12 годам фор мула для PFDavg имеет вид: 12 (1– ) . 2 2 du du Et Et λ λ = × + × × 1, 12 PFDavg TI SL E = = = PFDavg (1– ) , 2 2 du du TI SL Et Et λ λ = × × + × × PFDavg . 2 du TI λ = × С ТАНДА Р Т ИЗАЦИЯ И С Е Р Т ИФИКАЦИЯ 77 СТА 1/2009 www.cta.ru Таблица 6 Межтестовые интервалы для компонентов системы, показанной на рис. 5 Компонент, подсистема Межтестовый интервал (Tproof) Датчик 1 год Барьер 10 лет ПЛК системы безопасности 20 лет Клапан 4 месяца Источник питания 10 лет © СТА-ПРЕСС