ЖУРНАЛ СТА 3/2011

–0,5 –0,4 –0,3 –0,2 –0,1 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0 5 10 15 20 25 Номер образца Отклонение от номинала (%) ную стойкость по отношению к накоп- ленной дозе, улучшая тем самым ста- бильность напряжения при воздей- ствии ионизирующего излучения. Кроме того, технические характери- стики в отношении одиночных эффек- тов от воздействия протонов и ионов также стали значительно лучше. Применение внутреннего источника опорного напряжения с низким напря- жением позволяет стабилизаторам но- вой серии обеспечивать выходные на- пряжения, снижающиеся до 0,8 В, что соответствует требованиям эксплуата- ции современных цифровых устройств. Р ЕСУРСНЫЕ ИСПЫТАНИЯ Результаты ресурсных испытаний стабилизаторов серии IRUH3301 по Method 1005 стандарта MIL-STD-883 представлены на рис. 6. При разработ- ке этих изделий выдвигалось требова- ние получить значение отклонения от номинала ±1%. Самый большой вклад в отклонение от номинала стабилиза- тора вносится старением интегральной микросхемы регулятора. При разработ- ке данной микросхемы была поставле- на цель добиться предела отклонения, вызываемого старением, величиной в 1%. Резисторы имеют максимальное значение отклонения ±0,5% при ре- сурсных испытаниях в течение 2000 ча- сов, типовое значение составляет око- ло 1/10 от указанного максимума [8]. Н АКОПЛЕННАЯ ДОЗА РАДИАЦИИ Во время разработки своих изделий, предназначенных для применения в аппаратуре ракетно-космической тех- ники, которая при эксплуатации под- вергается воздействию ионизирующих излучений заряженных частиц, компа- ния International Rectifier проводит квалификационные испытания изде- лий на воздействие ионизирующих из- лучений и одиночных ядерных частиц. Отчёты по результатам испытаний на- ходятся в свободном доступе на сайте компании или доступны по запросу. Таким образом, гарантируется доступ к информации об устойчивости к воз- действию радиации и другим внешним воздействующим факторам. Зачастую получить такую информацию от других поставщиков высоконадёжной техни- ки не представляется возможным [9]. В качестве руководства по разработ- ке процедуры испытания использовал- ся Method 1019 Ionizing Radiation (усло- вие А) стандарта MIL-STD-883G. Этот метод устанавливает основные требова- ния к выполнению испытаний. Со- гласно условию A стандарта мощность дозы ионизирующего излучении долж- на быть между 50 и 300 рад (Si)/с от ис- точника типа 60 Co. Интенсивности облучения могут быть разными для каждого значения суммарной дозы, од- нако мощность дозы не должна разли- чаться более чем на ±10% во время каж- дого облучения. Устойчивость к воздействию накоп- ленной дозы радиации отражает рис. 7. Согласно требованиям стандарта, что- бы произвести оценку IRUH3301 при накопленной дозе до 300 крад (Si), тест был проведён при уровне дозы на 50% большем, поэтому в результатах фигу- рируют и данные, полученные для 500 крад. Отклонения выходного на- пряжения, связанные с воздействием накопленной дозы радиации, лежат в пределах от +0,5% до –1% номинала. Этот показатель был проверен на выбо- рочной основе для каждой партии кремниевых пластин. Он значительно лучше, чем аналогичный показатель для предыдущей серии, который с прежней версией микросхемы управления мог изменяться до 6% при 500 крад (Si) [10]. ELDRS – ПОВЫШЕННАЯ УСТОЙЧИВОСТЬ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ НЕБОЛЬШОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ Испытания на определение устойчи- вости полупроводниковых интеграль- ных микросхем к воздействию ионизи- рующих излучений небольшой интен- сивности применяются для изделий, которые могут выдавать отказы при мощностях дозы излучения ниже 50 рад (Si)/с. Методика испытаний была выработана на основе Method 1019 Ioni- zing Radiation (условие D) стандарта MIL-STD-883. Этот метод устанавлива- ет основные требования к выполнению испытаний. Согласно условию D, кото- рое применяется для микросхем, выпол- ненных на биполярных транзисторах по технологии BiCMOS или принадлежа- щих к смешанному типу (аналоговые и цифровые), устройства подвергаются воздействию низкоинтенсивного радиа- ционного облучения с мощностью дозы не более 10 мрад (Si)/с. Исключение со- ставляют те случаи, когда суммарная до- 60 СТА 3/2011 АППА Р А Т НЫЕ С Р Е ДС Т В А / ИС ТОЧНИКИ ПИ Т АНИЯ www.cta.ru Температура корпуса стабилизатора (°С) Ток нагрузки (А) Рис. 5. Зависимость тока нагрузки от температуры корпуса стабилизатора без понижения мощности при максимальном рассеивании –0,5 –0,4 –0,3 –0,2 –0,1 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0 5 10 15 20 25 Номер образца Отклонение от номинала (%) Рис. 6. Результаты ресурсных испытаний для IRUH3301 © СТА-ПРЕСС