ЖУРНАЛ СТА 3/2013

жения 0,5% и не обнаружено различий между результатами испытаний при HDR и LDR. При испытаниях модуля серии SMSA воздействием мощностей доз ELDRS до поглощённой дозы 50 крад (Si) обнаружено смещение вы- ходного напряжения 0,3% и тоже не об- наружено различий между результатами испытаний при HDR и LDR. Результаты исследований ИМС MC34072 Этот усилитель применяется для фор- мирования сигнала ошибки в случае, когда существует разность между опор- ным и выходным напряжением. Это зна- чительно усиленное напряжение ошиб- ки управляет ШИМ-контроллером для воздействия на выходное напряжение. Как было упомянуто при рассмотрении компонента LM136, сумма смещений в усилителе и источнике опорного на- пряжения может проявляться в виде из- менения выходного напряжения. Ис- пытания, проведённые для преобразо- вателя серии SMSA, содержащего две разные партии кремниевых пластин MC34072, до поглощённой дозы 50 крад (Si), показали, что смещение выходного напряжения было 0,3% при испытаниях LDR и HDR. Это напряже- ние смещения, вероятно, явилось результатом смещения только от источ- ника опорного напряжения LM136. В ЫВОД Каждый из трёх компонентов, опреде- лённый как потенциально чувствитель- ный к воздействию ELDRS, был испы- тан много раз на компонентном уровне и в составе преобразователей. Микросхема источника опорного напряжения LM136 была испытана 4 раза в составе преобра- зователя (каждый раз – из разных пар- тий), 1 раз на компонентном уровне. Микросхема LM119 была испытана 3 раза в составе преобразователей (каж- дый раз – из разных партий) и один раз на компонентном уровне. Микросхема MC34072 была испытана 2 раза в составе изделий и 1 раз как отдельный компо- нент, каждое испытание проводилось для микросхем из разных партий. Ре- зультаты испытаний и, что очень важно, их согласованность, по крайней мере, для трёх партий пластин каждого компо- нента значительно уменьшают риск потенциальной проблемы ELDRS. Кро- ме того, надо учитывать, что данные компоненты были специально спроек- тированы так, чтобы минимизировать влияние радиации, вызывающей изме- нения технических параметров. АППА Р А Т НЫЕ С Р Е ДС Т В А / ИС ТОЧНИКИ ПИ Т АНИЯ 99 СТА 3/2013 www.cta.ru контейнере. Свинцово-алюминиевый кон- тейнер требуется в соответствии с докумен- том MIL-STD-883G Test Method 1019.7 Section 3.4, который гласит следующее: «Свинцово-алюминиевый (Pb/Al) контей- нер. Испытываемые образцы должны быть помещены в Pb/Al-контейнер для уменьше- ния влияний повышенной дозы рассеянной радиации с низкой энергией. Минимальная толщина свинца должна быть 1,5 мм, он окружает внутренний алюминиевый экран с требуемой толщиной по меньшей мере 0,7 мм. Этот Pb/Al-контейнер создаёт при- близительное равновесие заряженных час- тиц между Si и TLD, такое как контейнер из CaF 2 . Напряжённость радиационного поля внутри Pb/Al-контейнера должна быть измерена перед началом испытаний в тех случаях, когда был заменён источник из- лучения или когда были изменены его ори- ентация либо форма, а также форма контей- нера, элемент тестового оборудования. Это измерение должно быть произведено после помещения дозиметра (например, TLD) в контейнер на то место, где приблизительно размещается облучаемый образец. В том случае, когда может быть доказано, что рас- сеянная низкоэнергетическая радиация на- столько мала, что не вызовет ошибки дози- метрии вследствие увеличения дозы, Pb/Al- контейнер может не использоваться». Значение мощности дозы внутри свинцо- во-алюминиевого контейнера было опреде- лено по измерениям мощности излучения дозиметром TLD непосредственно перед началом экспозиции для определения погло- щённой дозы. Значение мощности дозы во время этого эксперимента было 10 мрад (Si) с точностью ±5%. Проверяемые параметры В этой работе исследовались следующие параметры: ● напряжение смещения на входе V IO ; ● ток смещения на входе I IO ; ● входной ток смещения + I B ; ● входной ток смещения I B ; ● ток источника питания I CC ; ● выходное напряжение высокого уровня V OH ; ● выходное напряжение низкого уровня V OL . Параметры были представлены в виде зафиксированных данных, а все необрабо- танные данные, включая сводку определяю- щих признаков, представлены в форме отчёта [3], а также в виде отдельного файла в формате Excel. Данные определяющих при- знаков содержат среднее, стандартное от- клонение и среднее значение с коэффици- ентом K TL (ограничивающий коэффициент точности при одностороннем измерении). Используемое значение K TL равно 4,666 со- гласно MIL-HDBK 814 “Military Handbook. Ionizing Dose and Neutrons Hardness Assu- rance Guidelines for Microcircuit and Semi- conductors Devices” при использовании односторонних доверительных границ до- пуска 99/90% и объёма выборки 5 штук. За- метим, что для прохождения устройством тестирования на ELDRS должен выпол- няться следующий критерий: после радиа- ционного облучения технические парамет- ры устройства должны соответствовать спе- цификации и среднее значение для выборки должно удовлетворять требованиям специ- фикации с учётом ограничивающего коэф- фициента K TL . В том случае, когда после радиационного облучения этот критерий не выполняется, соответствующая партия устройств рассматривается как партия, не прошедшая радиационные приёмочные ис- пытания (Radiation Lot Acceptance Testing – RLAT). Результаты испытаний при воздействии ионизирующих излучений небольшой мощности дозы В соответствии с представленными кри- териями для сдвоенных компараторов LM119 из партий с кодами 0806/J205B6252 неудачно закончилось испытание на ELDRS при первом уровне возрастающей дозы 10 крад (Si) вследствие увеличения входных токов смещения на обоих каналах. На инвертирующем и неинвертирующем входах тоже были выявлены аномальные изменения параметров при 10 крад (Si) и 20 крад (Si). Но несмотря на то что были обнаружены существенные ухудшения на- пряжения смещения на входе и входных токов смещения, устройства сохранили свой основной набор функций, доказатель- ством чего послужили результаты послед- них двух испытаний, в которых проверялись V OL и V OH при подключении устройства в схему в качестве стандартного компаратора. Из результатов испытаний видно, что параметры до воздействия радиации и пострадиационные параметры находятся в пределах спецификаций даже с учётом K TL . Параметры испытываемых устройств зна- чительно не изменились, как и следовало ожидать. Поэтому можно сделать вывод, что любые обнаруженные их изменения были обусловлены только радиационным облуче- нием. ■ © СТА-ПРЕСС